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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)系列SiC襯底位錯(cuò)缺陷無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
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半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)系列
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如何優(yōu)化電激發(fā)納秒瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)的易操作性?
閃光光解系統(tǒng)有哪些應(yīng)用領(lǐng)域?
電泵浦瞬態(tài)吸收的成因與控制措施
碳化硅成像檢測(cè)的應(yīng)用領(lǐng)域
如何挑選適合的激光器品牌?
納秒激光器具有哪些特點(diǎn)?
碳化硅襯底檢測(cè),碳化硅成像檢測(cè),碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng):最高檢測(cè)速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識(shí)別。
服務(wù)熱線:18698665927